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GSD / 200 E2 离子注入机的组成及工作原理(一)
2022-12-13
离子注入机简介
2022-12-12
离子注入原理
2022-11-18
半导体是一种导电性能介于导体与绝缘体之间的一种物质。为了使半导体材料能够在半导体器件中制成 p-n 结,电阻器,欧姆接触以及互连线,需要对半导体进行掺杂以改变材料的电学性质,从而制成真正的半导体器件。 掺杂就是将所需的杂质按所要求的浓度与分布掺入到半导体材料中,掺入杂质的种类、数量及其分布对器件的影响极大,必须加以精确控制,因此掺杂是半导体制造中的一道重要工艺。 在集成电路制造中,掺杂主要采用两种方法:扩散法和离子注入法。扩散法就是利用高温将杂质掺入到半导体材料中,因为在一定的温度条件下,杂质原子具有一定的能量,它能够克服某种阻力进入到半导体中,并在其中作缓慢的迁移运动,这些杂质原子不是代替硅原子的位置就是处在晶体的间隙中。扩散运动只是从浓度高的地方向浓度低的地方移动,移动的快慢与温度、浓度梯度有关。一般讲高浓度深结掺杂采用热扩散,而浅结高精度掺杂采用离子注入。由于离子注入可以严格地控制掺杂量及其分布,而且具有掺杂温度低、横向扩散小、可掺杂的元素多、可对各种材料进行掺杂、杂质浓度不受材料固溶度的限制等特点,所以离子注入目前己被广泛地采用。尤其是对于MOSVLSI 器件,需要严格控制开启电压,负载电阻等,一般的热扩散技术已不适用,必须采用离子注入。 所谓离子注入就是先使待掺杂的原子(或分子)电离,再加速到一定的能量,使之注入到晶体中,然后经过退火使杂质激活,达到掺杂的目的。当高能量的离子进入晶体后,不断地与原子核及核外电子碰撞,然后逐渐损失能量,最后停止下来。离子进入单晶后的运动,可分为两种情况:一种是沿着晶轴的方向运动,在晶格空隙中穿行, 好象在“沟道”中运动一样,它和核外电子作用使原子电离或激发,由于离子质量比电子大很多,每次碰撞离子能量损失很少,且都是小角度散射,散射的方向是随机的,多次散射的结果离子运动方向基本不变。这种离子可以走得很远,称沟道离子。另一种是离子的运动方向远离晶轴,因此它们与原子核相碰撞,因两者质量往往是一个量级,一次碰撞可以损失较多的能量,且可能发生大角度散射,使靶原子核离开原来的晶格位置,它变成一个新离子,它可以继续碰撞另外一个原子核,由于原子核的碰撞损耗较多能量,所以它们走的路径也较短。这段从进入晶体后与原子核碰撞而停止的距离就是结深。不同能量的离子,行走的距离也就不同,所以我们就可以通过调节离子能量的大小来控制制品的结深。 在实际的注入掺杂工艺中,为了提高注入的重复性,应尽量避免发生沟道注入,而使注入离子尽可能停留在晶格上(事实上注入离子的很大部分并不正好处于晶格点阵上),这就必须控制好离子束与晶体主轴的角度。由于两者间的夹角比较难控制,所以注入时一般使离子束与晶体主轴方向偏 7°-10°(常用为7°),使大多数离子停留在晶格上。离子对原子核的碰撞,会使一部分原子核离开晶格位置,形成一个碰撞与位移的级连,在靶中形成无数空位与间隙原子,这些缺陷的存在将使半导体中的载流子的迁移率下降,少子寿命缩短,从而影响器件的性能。当注入剂量很大时(剂量单位:注入的离子数/每平方厘米)可使单晶硅严重损伤以至于变成无定形硅。因此离子注入后往往需要通过退火使靶材料恢复晶体状态,并且使注入的离子激活——即把不在晶格位置上的离子运动到晶格点阵上,起到电活性掺杂作用。
离子注入的优点
2022-09-23
➊ 精确地控制掺杂浓度和掺杂深度 离子注入层的深度依赖于离子能量、杂质浓度依赖于离子剂量,可以独立地调整能量和剂量,精确地控制掺杂层的深度和浓度,工艺自由度大。 ➋ 可以获得任意的杂质浓度分布 由于离子注入的浓度峰在体内,所以基于第1点采用多次叠加注入,可以获得任意形状的杂质分布,增大了设计的灵活性。目前多种产品的部分结构均采用多次叠加注入使产品性能提高。 ➌ 杂质浓度均匀性好、重复性好 用扫描的方法控制杂质浓度均匀性。目前部分厂家已开发出部分区域补偿注入的机型,可有效提升产品片内均匀性。 ➍ 注入源多样性 原则上,任何元素都可以用作注入离子,注入元素和基质材料的选择不受限制,形成的结构不受热力学参数(扩散、溶解度等)的限制; 另外,离子注入还有掺杂温度低(<100°)、沾污少、横向扩散少等优点。
半导体晶圆制造等领域的关键设备之一
在半导体晶片制造中,由于纯硅的导电性差,需要添加少量杂质以改变其结构和导电性,从而成为有用的半导体。这个过程被称为掺杂。目前,掺杂方法主要有两种:高温热扩散法和离子注入法。离子注入占据主流地位: 高温热扩散法:将掺杂剂气体引入带有硅片的高温炉中,并将杂质扩散到硅片中的方法。由于难以控制精度和热扩散中的高热缺陷的缺点,它在当前工艺中很少使用。 离子注入方法:通过离子注入机的加速和引导,将要掺杂的离子以离子束的形式注入材料中。离子束和材料中的原子或分子发生一系列物理和化学反应,入射离子逐渐失去能量,导致材料表面的成分、结构和性质发生变化,最终停留在材料中以优化或改变材料的表面性质。离子注入具有能量和剂量精确控制、掺杂均匀性好、纯度高、温度低、不受注入材料影响等优点。
离子注入机:半导体四大核心设备之一
近年来,为了快速突破集成电路国产化瓶颈,国产离子注入机也得到了国家政策的重点支持。 2014年,在《国家集成电路产业发展促进纲要》中明确指出,要加强集成电路设备、材料和工艺的集成,发展光刻机、刻蚀机、离子注入机等关键设备,开发光刻胶、大规模硅片等关键材料,加强集成电路制造企业与设备材料企业的合作,加快产业化进程,增强产业支撑能力; 2017年,国家发改委发布的《战略性新兴产业重点产品和服务指导目录》(2016年版)指出,集成电路设备主要包括用于6英寸/8英寸/12英寸集成电路生产线的光刻机和蚀刻机,离子注入机、退火设备、单晶生长设备、薄膜生长设备、化学机械抛光设备、封装设备、测试设备等。集成电路离子注入机包括在目录范围内; 2018年,工业和信息化部发布了《第一(套)重大技术装备推广应用指导目录》,其中也包括离子注入机。
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